使用说明书-日本日置 IM3523 LCR测试仪

HIOKI IM3523 LCR测试仪（LCR METER）用户使用说明书（2019年11月修订版5）

一、前言
本说明书适用于HIOKI IM3523系列LCR测试仪，用于电感、电容、电阻及阻抗参数测量。内容包括安全注意事项、装箱确认、测量准备及功能操作说明。

二、产品概述
IM3523是一款高精度LCR测试仪，支持多种测量模式与自动量程功能，用于元器件参数分析与质量检测。

三、使用前准备
- 使用前请务必阅读安全说明
- 初次使用确认装箱内容
- 连接电源线
- 连接测试电缆、探头与夹具
- 连接接口并接通/关闭电源

四、设备操作界面与功能
4.1 初始画面
4.2 测量模式选择
- LCR模式
- 连续测量模式

4.3 系统设置画面（SYSTEM）
4.4 比较器/BIN设置画面
4.5 面板读取执行画面
4.6 补偿设置画面
4.7 信息画面

五、LCR功能设置
5.1 基本测量设置
- 设置显示参数
- 设置测量频率
- 设置测量信号电平

5.2 测量保护与限制
- 限制施加到测试物的电压与电流（限值）
- 设置量程
- AUTO自动量程
- AUTO量程限制功能
- HOLD保持功能
- JUDGE同步设置

5.3 触发测量功能
- 任意时序触发测量
- 触发延迟设置
- 测量速度设置
- 平均值显示设置

5.4 量程测量条件设置
- 各量程测量条件设置
- LIST画面构成与参数选择
- 设置变更项目

六、直流电阻测量设置
- DC测量量程设置
- AUTO设置与限制功能
- HOLD与JUDGE同步设置
- DC延迟设置
- 调节延迟设置
- 电源频率设置

七、判定与分类功能
7.1 比较器测量（Comparator）
- 上下限值判定
- ABS绝对值模式
- %百分比模式
- △%偏差百分比模式
- 取消比较器设置

7.2 BIN分类测量
- ABS绝对值分类
- 百分比分类
- 偏差百分比分类
- 取消BIN设置

八、扩展功能
- 测量结果存储功能
- 波形平均功能（信号波形平均数设置）
- 测量数据延迟控制
- 自动测量条件应用设置